Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Mireille Mouis : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02400540
Soumis le : lundi 9 décembre 2019-15:23:46
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02400540 , version 1
Citer
Thibauld Cazimajou, Thuy Thi Thu Nguyen, Maxime Legallais, Mireille Mouis, Céline Ternon, et al.. Low Temperature Electrical Characteristics of Si Nanonet Field-Effect Transistors. 2019 Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Apr 2019, Grenoble, France. Actes pp. 132-133. ⟨hal-02400540⟩
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