Low Temperature Electrical Characteristics of Si Nanonet Field-Effect Transistors - Université Grenoble Alpes
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Low Temperature Electrical Characteristics of Si Nanonet Field-Effect Transistors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02400540

Soumis le : lundi 9 décembre 2019-15:23:46

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:08:11

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Dates et versions

hal-02400540 , version 1 (09-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02400540 , version 1

Citer

Thibauld Cazimajou, Thuy Thi Thu Nguyen, Maxime Legallais, Mireille Mouis, Céline Ternon, et al.. Low Temperature Electrical Characteristics of Si Nanonet Field-Effect Transistors. 2019 Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Apr 2019, Grenoble, France. Actes pp. 132-133. ⟨hal-02400540⟩

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