Hybridization of ellipsometry and XPS energy loss: robust band gap and broadband optical constants determination of thin films - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Hybridization of ellipsometry and XPS energy loss: robust band gap and broadband optical constants determination of thin films

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03777894 , version 1 (15-09-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03777894 , version 1

Citer

Théo Levert, Jon De Vecchy, Julien Duval, Stéphan Verdier, Delphine Le Cunff, et al.. Hybridization of ellipsometry and XPS energy loss: robust band gap and broadband optical constants determination of thin films. Journées Nationales des Spectroscopies de PhotoEmission, May 2022, Dijon, France. ⟨hal-03777894⟩
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