Characterization of aluminium nitride thin film structure using second-harmonic generation - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optical Materials Année : 1994

Characterization of aluminium nitride thin film structure using second-harmonic generation

A. Cachard
  • Fonction : Auteur
J.C. Pommier
  • Fonction : Auteur
J.L. Coutaz
  • Fonction : Auteur
Danièle Blanc

Dates et versions

hal-03703253 , version 1 (23-06-2022)

Identifiants

Citer

A. Cachard, J.C. Pommier, J.L. Coutaz, Jean-François Roux, Danièle Blanc. Characterization of aluminium nitride thin film structure using second-harmonic generation. Optical Materials, 1994, 3 (1), pp.41-45. ⟨10.1016/0925-3467(94)90027-2⟩. ⟨hal-03703253⟩
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