Low-frequency Noise Characterization of Si Nanonet Field Effect Transistors - Université Grenoble Alpes
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Low-frequency Noise Characterization of Si Nanonet Field Effect Transistors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Mireille Mouis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02400620

Soumis le : lundi 9 décembre 2019-15:45:43

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:45:48

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Dates et versions

hal-02400620 , version 1 (09-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02400620 , version 1

Citer

Thibauld Cazimajou, Christoforos Theodorou, Thuy Thi Thu Nguyen, Maxime Legallais, Mireille Mouis, et al.. Low-frequency Noise Characterization of Si Nanonet Field Effect Transistors. 25th International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Jun 2019, Neuchâtel, Switzerland. Actes pp. 180-183. ⟨hal-02400620⟩

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