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Communication dans un congrès

Series Resistance Effects on the Back-Gate Biased Operation of Junctionless Transistors (poster)

Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02400587
Contributeur : Mireille Mouis <>
Soumis le : lundi 9 décembre 2019 - 15:37:09
Dernière modification le : jeudi 6 août 2020 - 03:02:39

Identifiants

  • HAL Id : hal-02400587, version 1

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Citation

Daeyoung Jeon, So Jeong Park, Mireille Mouis, Sylvain Barraud, Kim Gyu-Tae, et al.. Series Resistance Effects on the Back-Gate Biased Operation of Junctionless Transistors (poster). 2019 Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Apr 2019, Grenoble, France. Actes pp. 36-37. ⟨hal-02400587⟩

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