Series Resistance Effects on the Back-Gate Biased Operation of Junctionless Transistors (poster) - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Series Resistance Effects on the Back-Gate Biased Operation of Junctionless Transistors (poster)

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Mireille Mouis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02400587

Soumis le : lundi 9 décembre 2019-15:37:09

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:08:42

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02400587 , version 1 (09-12-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02400587 , version 1

Citer

Daeyoung Jeon, So Jeong Park, Mireille Mouis, Sylvain Barraud, Kim Gyu-Tae, et al.. Series Resistance Effects on the Back-Gate Biased Operation of Junctionless Transistors (poster). 2019 Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), Apr 2019, Grenoble, France. Actes pp. 36-37. ⟨hal-02400587⟩

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