Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02338914
Soumis le : mercredi 30 octobre 2019-10:57:26
Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:25:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02338914 , version 1
Citer
M. Fraccaroli, R. Gassilloud, S. Cadot, B. Pellissier, Christophe Vallee, et al.. TMD film growth studied by quasi-insitu XPS on a 300mm silicon wafer. 18th European Conference on Applications of Surface and Interface Analyses (ECASIA), Sep 2019, Dresde, Germany. ⟨hal-02338914⟩
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