Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
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https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01991871
Soumis le : jeudi 24 janvier 2019-10:27:54
Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:44:52
Citer
B. Salem, G. Rosaz, N. Pauc, P. Gentile, P. Periwal, et al.. Electrical characterisation of horizontal and vertical gate-all-around Si/SiGe nanowires field effect transistors. 2014 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Jun 2014, Honolulu, United States. pp.1-2, ⟨10.1109/SNW.2014.7348570⟩. ⟨hal-01991871⟩
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