Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01882776
Soumis le : jeudi 27 septembre 2018-13:53:11
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:53:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01882776 , version 1
Citer
S. Liénard, D. Sam-Giao, A. Kerlain, F. Boulard, Corentin Vallée. Origin of stress in sputtered CdTe and ZnS films: influence of sputter Ion mass on mechanical and chemical layer properties. AVS 2016, 2016, Nashville (USA), United States. ⟨hal-01882776⟩
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