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Spatially correlated structural and optical characterization of a single InGaAs quantum well fin selectively grown on Si by microscopy and cathodoluminescence techniques

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https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01881951
Contributeur : Marielle Clot <>
Soumis le : mercredi 26 septembre 2018 - 14:22:07
Dernière modification le : samedi 1 août 2020 - 03:03:17

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S. David, J. Roque, N. Rochat, N. Bernier, L. Piot, et al.. Spatially correlated structural and optical characterization of a single InGaAs quantum well fin selectively grown on Si by microscopy and cathodoluminescence techniques. APL Materials, AIP Publishing 2016, 4 (5), ⟨10.1063/1.4949761⟩. ⟨hal-01881951⟩

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