Threading dislocations in GaAs epitaxial layers on various thickness Ge buffers on 300 mm Si substrates
Y. Bogumilowicz
(1)
,
M. Hartmann
,
N. Rochat
,
A. Salaün
,
M. Martin
(2)
,
F. Bassani
(2)
,
T. Baron
(2)
,
S. David
(2)
,
X.-Y. Bao
,
E. Sanchez
(3)
M. Hartmann
- Fonction : Auteur
N. Rochat
- Fonction : Auteur
A. Salaün
- Fonction : Auteur
F. Bassani
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1188804
- IdHAL : franck-bassani
T. Baron
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- PersonId : 739925
- IdHAL : thierry-baron
- ORCID : 0000-0001-5005-6596
- IdRef : 130661813
S. David
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- PersonId : 742757
- IdHAL : sylvain-david-in2p3
X.-Y. Bao
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