Time-resolved reflectivity characterization of polycrystalline low-temperature-grown GaAs - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 1999
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Dates et versions

hal-03703237 , version 1 (23-06-2022)

Identifiants

Citer

Jean-François Roux, Arunas Krotkus, Jean-Louis Coutaz. Time-resolved reflectivity characterization of polycrystalline low-temperature-grown GaAs. Applied Physics Letters, 1999, 74 (17), pp.2462-2464. ⟨10.1063/1.123881⟩. ⟨hal-03703237⟩
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