Electrical Characterization of Phase Change Random Access Memory (GST) by C-AFM in Ultra-High Vacuum - Université Grenoble Alpes
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Electrical Characterization of Phase Change Random Access Memory (GST) by C-AFM in Ultra-High Vacuum

Domaines

Physique [physics]

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https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-03022459

Soumis le : mardi 24 novembre 2020-18:16:52

Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:05

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03022459 , version 1 (24-11-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03022459 , version 1

Citer

M. Ben Youssef, S. Blonkowski, O. Cueto, C. Sabbione, M. Kogelschatz. Electrical Characterization of Phase Change Random Access Memory (GST) by C-AFM in Ultra-High Vacuum. MRS Fall Meeting and Exhibit, Nov 2020, Conférence virtuelle, France. ⟨hal-03022459⟩

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