Use of optical spacers to enhance infrared Mueller ellipsometry sensitivity: application to the characterization of organic thin films - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied optics Année : 2016

Use of optical spacers to enhance infrared Mueller ellipsometry sensitivity: application to the characterization of organic thin films

Domaines

Physique [physics]

Marielle Clot  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01882073

Soumis le : mercredi 26 septembre 2018-15:25:06

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hal-01882073 , version 1 (26-09-2018)

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Citer

Gérald Ndong, Angel Lizana, Enric Garcia-Caurel, Valerie Paret, Géraldine Melizzi, et al.. Use of optical spacers to enhance infrared Mueller ellipsometry sensitivity: application to the characterization of organic thin films. Applied optics, 2016, 55 (12), pp.436 - 439. ⟨10.1364/AO.55.003323⟩. ⟨hal-01882073⟩

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