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Use of optical spacers to enhance infrared Mueller ellipsometry sensitivity: application to the characterization of organic thin films

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https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01882073
Contributeur : Marielle Clot <>
Soumis le : mercredi 26 septembre 2018 - 15:25:06
Dernière modification le : samedi 1 août 2020 - 03:03:17

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Citation

Gérald Ndong, Angel Lizana, Enric Garcia-Caurel, Valerie Paret, Géraldine Melizzi, et al.. Use of optical spacers to enhance infrared Mueller ellipsometry sensitivity: application to the characterization of organic thin films. Applied optics, Optical Society of America, 2016, 55 (12), pp.436 - 439. ⟨10.1364/AO.55.003323⟩. ⟨hal-01882073⟩

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