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Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2020

Analysis of the Role of Inter-Nanowire Junctions on Current Percolation Effects in Silicon Nanonet Field-Effect Transistors

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hal-02380107 , version 1 (20-05-2022)

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T. Cazimajou, M. Mouis, M. Legallais, T.T.T. Nguyen, C. Ternon, et al.. Analysis of the Role of Inter-Nanowire Junctions on Current Percolation Effects in Silicon Nanonet Field-Effect Transistors. Solid-State Electronics, 2020, pp.107725. ⟨10.1016/j.sse.2019.107725⟩. ⟨hal-02380107⟩
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