Analysis of the Role of Inter-Nanowire Junctions on Current Percolation Effects in Silicon Nanonet Field-Effect Transistors - Université Grenoble Alpes

Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2020

Analysis of the Role of Inter-Nanowire Junctions on Current Percolation Effects in Silicon Nanonet Field-Effect Transistors

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T. Cazimajou

Fonction : Auteur
PersonId : 1169142
IdHAL : thibauld-cazimajou
ORCID : 0000-0003-2650-5421

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

M. Mouis

Fonction : Auteur
PersonId : 170882
IdHAL : mireille-mouis
IdRef : 034043543

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

M. Legallais

Fonction : Auteur

Laboratoire des technologies de la microélectronique

T.T.T. Nguyen

Fonction : Auteur

Laboratoire des matériaux et du génie physique

C. Ternon

Fonction : Auteur
PersonId : 1265884
IdHAL : celine-ternon
ORCID : 0000-0001-8890-4239
IdRef : 070215839

Laboratoire des matériaux et du génie physique

Bassem Salem

Fonction : Auteur
PersonId : 174867
IdHAL : bassem-salem
ORCID : 0000-0001-8038-3205
IdRef : 092216625

Laboratoire des technologies de la microélectronique

Gérard Ghibaudo

Fonction : Auteur
PersonId : 170596
IdHAL : gerard-ghibaudo
ORCID : 0000-0001-9901-0679
IdRef : 069253099

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Fichier principal

Vignette du fichier

S0038110119307282.pdf (1.14 Mo)

Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Accord Elsevier CCSD : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02380107

Soumis le : vendredi 20 mai 2022-10:30:04

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

Dates et versions

hal-02380107 , version 1 (20-05-2022)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

HAL Id : hal-02380107 , version 1
DOI : 10.1016/j.sse.2019.107725
PII : S0038-1101(19)30728-2

Citer

T. Cazimajou, M. Mouis, M. Legallais, T.T.T. Nguyen, C. Ternon, et al.. Analysis of the Role of Inter-Nanowire Junctions on Current Percolation Effects in Silicon Nanonet Field-Effect Transistors. Solid-State Electronics, 2020, pp.107725. ⟨10.1016/j.sse.2019.107725⟩. ⟨hal-02380107⟩

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