Low-temperature electrical characterization of junctionless transistors - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2013

Low-temperature electrical characterization of junctionless transistors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Mireille Mouis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02016366

Soumis le : mardi 12 février 2019-16:14:14

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Dates et versions

hal-02016366 , version 1 (12-02-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02016366 , version 1

Citer

Dae-Young Jeon, So Jeong Jeon, Mireille Mouis, Sylvain Barraud, Gyu-Tae Kim, et al.. Low-temperature electrical characterization of junctionless transistors. Solid-State Electronics, 2013, 80, pp.135-141. ⟨hal-02016366⟩

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