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Article dans une revue

(Invited) Defect Evolution during Silicon Smartcut 

Liste complète des métadonnées

https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-01974469
Contributeur : Francois Rieutord <>
Soumis le : mardi 8 janvier 2019 - 18:10:26
Dernière modification le : lundi 20 juillet 2020 - 14:06:02

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F. Rieutord, S. Tardif, F. Mazen, D. Landru, O. Kononchuk. (Invited) Defect Evolution during Silicon Smartcut . ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 75 (4), pp.155-160. ⟨10.1149/07504.0155ecst⟩. ⟨hal-01974469⟩

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