Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes - Université Grenoble Alpes
Article Dans Une Revue Journal of Electronic Materials Année : 2017
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Dates et versions

hal-01974417 , version 1 (08-01-2019)

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Citer

Aymeric Tuaz, Philippe Ballet, Xavier Biquard, François Rieutord. Micro-diffraction Investigation of Localized Strain in Mesa-etched HgCdTe Photodiodes. Journal of Electronic Materials, 2017, 46 (9), pp.5442-5447. ⟨10.1007/s11664-017-5691-6⟩. ⟨hal-01974417⟩
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