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Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
Bipolar charge transport model
Transport
Charge transport model
Electrical ageing
Acoustic wave propagation
C-AFM
Power cables
Space charge
Mechanical properties
Dielectric properties
Pulsed electro acoustic method
Electron beams
Proteins
Aluminum oxide
Polarization
Dielectrics
FTIR
Plasma processes
Partial discharges
Charge transport
Rotating machines
Electroluminescence
Electronic irradiation
Ageing
Electric field distribution
Silver nanoparticles
E-Beam
EFM
Electron emission
Atomic force microscopy
Epoxy resin
Dielectric
Interfacial charge
Permittivity
Electron-beam irradiation
Electrostatics
Dielectric material
Charge d'espace
Silicon compounds
Polymer
LDPE
Dielectric charging
Dielectric strength
AgNPs
Accumulation characteristics
Cathodoluminescence
PEA
Silver
Charge measurement
Modeling
Cross-linked polyethylene
Insulating polymers
Electrical properties
PTFE
DC conductivity
Electromechanical stress
Polarity reversal
Electric potential
Breakdown
Polyethylene
Optimization
Polyimide
Insulation
Electrical insulation
Cable
Charge injection
Radiation effects
Cross-linking by-products
HVDC
HVDC cable
Electrical engineering
Fluid model
FLIMM
Conductivity
Electric field
Ac electric field
Field distribution
Electron beam
Polymers
Polymeric insulation
LIMM
Dielectric films
Electrodes
Polypropylene
Thermal aging
AFM
Dielectric materials
Thin films
Luminescence
Current measurement
Cumyl alcohol
SiO2
Charge trapping
Electrical conductivity
DC stress
Conduction current
XLPE
Plasma process
KPFM
Nanostructured dielectrics