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Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité
Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.
Types de documents publiés
Sujets
Polypropylene
Nanostructured dielectrics
Electrodes
E-Beam
SiO2
Electrical insulation
Electrostatics
Silver
Partial discharges
Bipolar charge transport model
Charge transport model
Electroluminescence
Mechanical properties
Ageing
Plasma deposition
EFM
Ac electric field
Cumyl alcohol
Cathodoluminescence
Electric field
Charge measurement
Polyethylene
Doping
Optimization
AgNPs
Silicon compounds
Conduction current
Modeling
Insulation
Cross-linked polyethylene
Cross-linking by-products
Dielectric material
Dielectric materials
Acoustic wave propagation
LDPE
Plasma processes
Transport
HVDC cable
PEA
Proteins
Dielectric properties
DC conductivity
PTFE
Thermal aging
Plasma process
Charge d'espace
Cable
AFM
Charge trapping
Dielectrics
Space charge
Rotating machines
Breakdown
Fluid model
Pulsed electro acoustic method
Polymers
Charge transport
Nanocomposite
Dielectric
Polymeric insulation
Current measurement
Charges injection
Interfacial charge
Dielectric films
C-AFM
DC stress
Electrical conductivity
Radiation effects
KPFM
Epoxy resin
FTIR
Electric potential
Electric field distribution
Dielectric charging
Aluminum oxide
Polarization
Dielectric strength
Luminescence
FLIMM
Charge injection
Thin films
Silver nanoparticles
XLPE
Polarity reversal
LIMM
Insulating polymers
Power cables
Electrical engineering
Field distribution
Accumulation characteristics
HVDC
Polyimide
Kelvin Probe Force Microscopy
Electrical ageing
Polymer
Permittivity
Electron-beam irradiation
BSA
Atomic force microscopy
Conductivity