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 Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Polypropylene Nanostructured dielectrics Electrodes E-Beam SiO2 Electrical insulation Electrostatics Silver Partial discharges Bipolar charge transport model Charge transport model Electroluminescence Mechanical properties Ageing Plasma deposition EFM Ac electric field Cumyl alcohol Cathodoluminescence Electric field Charge measurement Polyethylene Doping Optimization AgNPs Silicon compounds Conduction current Modeling Insulation Cross-linked polyethylene Cross-linking by-products Dielectric material Dielectric materials Acoustic wave propagation LDPE Plasma processes Transport HVDC cable PEA Proteins Dielectric properties DC conductivity PTFE Thermal aging Plasma process Charge d'espace Cable AFM Charge trapping Dielectrics Space charge Rotating machines Breakdown Fluid model Pulsed electro acoustic method Polymers Charge transport Nanocomposite Dielectric Polymeric insulation Current measurement Charges injection Interfacial charge Dielectric films C-AFM DC stress Electrical conductivity Radiation effects KPFM Epoxy resin FTIR Electric potential Electric field distribution Dielectric charging Aluminum oxide Polarization Dielectric strength Luminescence FLIMM Charge injection Thin films Silver nanoparticles XLPE Polarity reversal LIMM Insulating polymers Power cables Electrical engineering Field distribution Accumulation characteristics HVDC Polyimide Kelvin Probe Force Microscopy Electrical ageing Polymer Permittivity Electron-beam irradiation BSA Atomic force microscopy Conductivity

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