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	hal-00748983v1 Article dans une revue Ghislain Despesse, Thomas Jager, Chaillout Jean-Jacques, Jean-Michel Léger, Andrea Vassilev et al. Fabrication and characterization of high damping electrostatic micro devices for vibration energy scavenging Proc. Design, Test, Integration and Packaging of MEMS and MOEMS, 2005, pp.386-390
	hal-00747235v1 Article dans une revue Stéphane Grauby, Amine Salhi, Luis-David Patino Lopez, Wilfrid Claeys, Benoît Charlot et al. Comparison of thermoreflectance and scanning thermal microscopy for microelectronic device temperature variation imaging: Calibration and resolution issues Microelectronics Reliability, Elsevier, 2008, 48 (2), pp.204-211. <10.1016/j.microrel.2007.04.008>
	hal-00192611v1 Article dans une revue Séverine Gomès, Pierre-Olivier Chapuis, François Nepveu, Nathalie Trannoy, Sebastian Volz et al. Temperature measurement of sub-micrometric ICs by scanning thermal microscopy IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, 30 (3), pp.424-431. <10.1109/TCAPT.2007.901748>
	hal-00108182v1 Communication dans un congrès Gilles Tessier, Sophie Pavageau, Benoit Charlot, G. Jerosolimski, Danièle Fournier et al. Quantitative thermoreflectance imaging: calibration method and validation on a dedicated intragrated circuit Sep 2005, TIMA Editions, pp.290-293, 2005
	hal-00344737v1 Article dans une revue Gilles Tessier, Sophie Pavageau, Benoit Charlot, Céline Filloy, Danièle Fournier et al. Quantitative thermoreflectance imaging: calibration method and validation on a dedicated integrated circuit IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, 30 (4), pp.604-608
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