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	1 2 3 4 5 6 7 8 9	Pertinence Auteur A→Z Auteur Z→A Titre A→Z Titre Z→A Date de publication croissante Date de publication décroissante Date de dépôt croissante Date de dépôt décroissante 30 résultats par page 50 résultats par page 100 résultats par page Pour les 266 documents Exporter XML-TEI BibTeX EndNote CSV PDF Export avancé... Syndication RSS ATOM
	hal-00016251v1 Chapitre d'ouvrage B. Charlot. Les domaines d'application des microsystèmes Conception de microsystèmes sur silicium (Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique), Hermès Science, 39-68 : chapitre 2, 2002, ISBN: 2746205068
	hal-00016252v1 Chapitre d'ouvrage B. Charlot. Les technologies de fabrication des microsystèmes Conception de microsystèmes sur silicium, Hermès Science, 220 p., chapitre 3: 69-100, 2002, Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique
	tel-00002936v1 Thèse B. Charlot. Modélisation de fautes et conception en vue du test structurel des microsystèmes Autre [cs.OH]. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 2001. Français
	hal-01400080v1 Communication dans un congrès B. Charlot, S. Mir. MEMS testing International Summer School on Advanced Microelectronics (MIGAS), Jun 2002, Autrans, France
	hal-00016261v1 Chapitre d'ouvrage Salvador Mir, B. Charlot. Perspectives des microsystèmes sur silicium Dispositifs et physique des microsystèmes sur silicium, Hermès Science, 218 p., 199-214 : chapitre 6, 2002, Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique
	hal-00086756v1 Article dans une revue Salvador Mir, B. Charlot. From Microelectronics to Integrated Microsystems Testing Nano et micro technologies, 2002, 2 (1-2), pp.249-270. <http://nmt.revuesonline.com/article.jsp?articleId=928>
	hal-00086664v1 Chapitre d'ouvrage Salvador Mir, B. Charlot. From Microelectronics to Integrated Microsystems Testing Microsystems Technology – Fabrication, test and reliability, Hermes Penton Science, pp.241-263, 2003
	hal-00013033v1 Article dans une revue Salvador Mir, B. Charlot. On the integration of design and test for chips embedding MEMS IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1999, 16(4), pp.28-38. <10.1109/54.808204>
	hal-00007872v1 Communication dans un congrès Salvador Mir, B. Charlot, B. Courtois. Extending fault-based testing to microelectromechanical systems 1999, IEEE Comput. Soc, Los Alamitos, CA, USA, pp.64-8, 1999, <10.1109/ETW.1999.804234>
	hal-00153914v1 Article dans une revue N. Galy, B. Charlot, B. Courtois. A full fingerprint verification system for a single-line sweep sensor Sensors Journal, 2007, Volume: 7, Issue: 7, July, pp.1054-1065. <10.1109/JSEN.2007.895976>
	hal-00012870v1 Article dans une revue B. Charlot, Salvador Mir, B. Courtois. Fault simulation of MEMS using HDLs Journal of Modeling and Simulation of Microsystems, 2001, 2(1), pp.35-42
	hal-00012878v1 Article dans une revue B. Charlot, Salvador Mir, B. Courtois. Fault simulation of MEMS using HDLs Journal of Modeling and Simulation of Microsystems, 1999, 1(1), pp.8
	hal-00013024v1 Article dans une revue Salvador Mir, B. Charlot, B. Courtois. Extending fault-based testing to microelectromechanical systems Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2000, 16(3): June, pp.279-88. <10.1023/A:1008303717862>
	hal-00008172v1 Article dans une revue Salvador Mir, B. Charlot, B. Courtois. Extending Fault-Based Testing to Microelectromechanical Systems Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2000, une 2000, Volume 16, Number 3, pp.279-288. <10.1023/A:1008303717862>
	hal-01400056v1 Communication dans un congrès C. Roman, S. Mir, B. Charlot. Building and analogue fault simulation tool and its application to MEMS 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (IMST3W'02), Jun 2002, Montreux, Switzerland. pp.65-74, Proceedings
	hal-00016250v1 Chapitre d'ouvrage B. Charlot, S. Martinez, Salvador Mir. La CAO des microsystèmes Conception de microsystèmes sur silicium, Hermès Science, 220 p., 129-176 : chapitre 5, 2002, Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique
	hal-00016260v1 Chapitre d'ouvrage Salvador Mir, B. Charlot, F. Parrain. Les microsystèmes thermiques Dispositifs et physique des microsystèmes sur silicium (Traité EGEM, série Electronique et micro-électronique), Hermès Science, 218p., chapitre 2: 65-104, 2002
	hal-00012866v1 Article dans une revue C. Roman, Salvador Mir, B. Charlot. Building an analogue fault simulation tool and its application to MEMS Microelectronics Journal, Elsevier, 2003, 34(10), pp.897-906. <10.1016/S0026-2692(03)00162-9>
	hal-00009096v1 Communication dans un congrès S. Basrour, B. Charlot, M. Marzencki. Design, Modelling and Optimisation of Integrated Piezoelectric Micro Power Generators Technical Proceedings of the 2005 NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, Volume 3, 2005, Anaheim, United States. NSTI, pp.545 - 548, 2005, Vol. 3, Chapter 9: MEMS Modeling and Design
	hal-01455450v1 Article dans une revue F. Parrain, S. Mir, B. Charlot, B. Courtois. Capteur infrarouge CMOS à thermopiles comportant des fonctions de self-test Nano et micro technologies, 2001, 1 (3-4), pp.387-412
	hal-00007790v1 Communication dans un congrès Salvador Mir, L. Rufer, B. Charlot, B. Courtois. On-chip testing of embedded silicon transducers 2004, IEEE, Piscataway, NJ, USA, pp.1-7, 2004, <10.1109/ICM.2004.1434190>
	hal-00007803v1 Article dans une revue B. Charlot, F. Parrain, N. Galy, S. Basrour, B. Courtois. A sweeping mode integrated fingerprint sensor with 256 tactile microbeams Journal-of-Microelectromechanical-Systems, 2004, 13(4), pp.636-44. <10.1109/JMEMS.2004.832195>
	hal-00007820v1 Communication dans un congrès B. Charlot, F. Parrain, N. Galy, B. Courtois. A sweeping mode integrated tactile fingerprint sensor 2003, IEEE, Piscataway, NJ, USA, pp.1031-4 vol.2, 2003, <10.1109/JMEMS.2004.832195>
	hal-00007826v1 Communication dans un congrès F. Parrain, B. Charlot, N. Galy, B. Courtois. CMOS-compatible micromachined tactile fingerprint sensor 2002, pp.Volume 4755; 97-104, 2002, <10.1117/12.462857>
	hal-00007839v1 Communication dans un congrès Z. Juneidi, K. Torki, B. Charlot, B. Courtois. MEMS synthesis and optimization 2001, SPIE-Int. Soc. Opt. Eng, pp.4408; 159-64, 2001, <10.1117/12.425364>
	hal-00007849v1 Communication dans un congrès B. Charlot, Salvador Mir, F. Parrain, B. Courtois. Electrically induced stimuli for MEMS self-test 2001, IEEE Comput. Soc, Los Alamitos, CA, USA, pp.210-15, 2001, <10.1023/A:1012860420235>
	hal-00007873v1 Communication dans un congrès B. Charlot, S. Moussouris, Salvador Mir, B. Courtois. Fault modeling of electrostatic comb-drives for MEMS 1999, SPIE-Int. Soc. Opt. Eng, 3680 pt. 1-2: 398-405, 1999, <10.1117/12.341226>
	hal-01384192v1 Communication dans un congrès B. Courtois, S. Mir, B. Charlot, Marcelo Lubaszewski. An analog-based approach for MEMS testing 2nd IEEE Latin-American Test Workshop (LATW'01 ), Feb 2001, Cancun, Mexico. IEEE, pp.200-203, Proceedings
	hal-01384193v1 Communication dans un congrès B. Courtois, S. Mir, B. Charlot, Marcelo Lubaszewski. An analog-based approach for MEMS testing 2nd IEEE Latin-American Test Workshop (LATW'01 ), Feb 2001, Cancun, Mexico. IEEE, pp.200-203, Proceedings
	hal-00346534v1 Communication dans un congrès B. Charlot, B. Courtois, L. Rufer, G. Di Pendina. Electronics manufacturing infrastructures for education and commercialization 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBS'08), Aug 2008, Vancouver, Canada. IEEE Computer Society, pp.1571-1574, 2008
	1 2 3 4 5 6 7 8 9	Pertinence Auteur A→Z Auteur Z→A Titre A→Z Titre Z→A Date de publication croissante Date de publication décroissante Date de dépôt croissante Date de dépôt décroissante 30 résultats par page 50 résultats par page 100 résultats par page Pour les 266 documents Exporter XML-TEI BibTeX EndNote CSV PDF Export avancé... Syndication RSS ATOM

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