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	hal-00803441v1 Communication dans un congrès Smriti Joshi, Anne Lombardot, Marc Belleville, Edith Beigne, Stéphane Girard. Statistical leakage estimation in 32nm CMOS considering cells correlations FTFC - 11th IEEE conference on Faible Tension Faible Consommation, Jun 2012, Paris, France. IEEE, pp.1-4, 2012, <10.1109/FTFC.2012.6231721>
	hal-00805478v1 Communication dans un congrès Smriti Joshi, Anne Lombardot, Marc Belleville, Edith Beigne, Stéphane Girard. A gate level methodology for efficient statistical leakage estimation in complex 32nm circuits DATE 2013 - Design, Automation and Test in Europe, Mar 2013, Grenoble, France. EDA Consortium, pp.1056-1057, 2013
	hal-00846806v1 Article dans une revue Smriti Joshi, Anne Lombardot, Philippe Flatresse, Carmelo D'Agostino, Andre Juge et al. Statistical estimation of dominant physical parameters for leakage variability in 32nanometer CMOS under supply voltage variations Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2012, 8 (1), pp.113-124. <10.1166/jolpe.2012.1166>
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