Probing impact on pad moisture tightness: A challenge for pad size reduction - Université Grenoble Alpes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Probing impact on pad moisture tightness: A challenge for pad size reduction

Matthias Vidal-Dhô
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
STMicroelectronics [Rousset]
Quentin Hubert
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
Patrice Gonon
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des technologies de la microélectronique
Philippe Delorme
  • Fonction : Auteur
Jonathan Jacquot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 773860
  • IdRef : 178166251
Maxime Marchetti
  • Fonction : Auteur
Ludovic Beauvisage
  • Fonction : Auteur
Jean-Michel Moragues
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Rousset]
Pascale Potard
  • Fonction : Auteur
Pascal Fornara
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Rousset]
Jean-Philippe Escales
  • Fonction : Auteur
Pascal Sallagoity
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 906734
STMicroelectronics [Rousset]
Olivier Pizzuto
  • Fonction : Auteur
Delphine Maury
  • Fonction : Auteur
Jean-Michel Mirabel
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics]

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Soumis le : mardi 22 octobre 2019-11:47:08

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:53:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02325534 , version 1 (22-10-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02325534 , version 1

Citer

Matthias Vidal-Dhô, Quentin Hubert, Patrice Gonon, Philippe Delorme, Jonathan Jacquot, et al.. Probing impact on pad moisture tightness: A challenge for pad size reduction. IEEE Int. Conf. on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2019, Kita-Kyushu, Japan. pp 176-179. ⟨hal-02325534⟩

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