Comparison of De-embedding Methods for Long Millimeter and Sub-Millimeter-Wave Integrated Circuits

Abstract : This paper compares several de-embedding methods over millimeter and sub-millimeter wave frequen-cies in integrated technology. These methods are compared for S-CPW transmission lines considered as device under test. From these comparisons we propose an effective way to de-embed transmission lines. A method called "Half-Thru de-embedding method" is especially discussed. The SCPW transmission line model and results are obtained from Ansys HFSS Simulations in BiCMOS 55-nm integrat-ed technology.
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Communication dans un congrès
JCMM 2014, 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Nantes, 24-26 Mars 2014, Mar 2014, Nantes, France. pp.id 31, 2014
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Contributeur : Vipin Velayudhan <>
Soumis le : mardi 5 août 2014 - 16:15:46
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:22:05
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Vipin Velayudhan, Emmanuel Pistono, Jean-Daniel Arnould. Comparison of De-embedding Methods for Long Millimeter and Sub-Millimeter-Wave Integrated Circuits. JCMM 2014, 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Nantes, 24-26 Mars 2014, Mar 2014, Nantes, France. pp.id 31, 2014. 〈hal-01054246〉

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