Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Analyse du procédé de gravure par plasma des interfaces métalliques dans les grilles de transistors "High-K Métal" en technologie CMOS 28nm

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00649912 , version 1 (09-12-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00649912 , version 1

Citer

F. Chave. Analyse du procédé de gravure par plasma des interfaces métalliques dans les grilles de transistors "High-K Métal" en technologie CMOS 28nm. 14èmes JNRDM, May 2011, Paris, France. ⟨hal-00649912⟩
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