On the integration of design and test for chips embedding MEMS
Résumé
This article illustrates how fault-based, defect-oriented test approaches can be applied to the problem of testing the next generation of chips embedding MEMS.
Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 1999
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https://hal.science/hal-00013033
Soumis le : mercredi 2 novembre 2005-15:40:17
Dernière modification le : jeudi 26 mars 2026-11:44:10
Citer
Salvador Mir, B. Charlot. On the integration of design and test for chips embedding MEMS. IEEE Design & Test, 1999, 16(4), pp.28-38. ⟨10.1109/54.808204⟩. ⟨hal-00013033⟩
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